對樣品成份進行礦產檢測分析有很多方法，例如，中子活化、原子發射光譜、原子吸收光譜、質譜、極譜以及傳統的化學分析方法。那么，你知道X射線熒光分析法有哪些特點呢？下面就讓煙臺魯東分析測試有限公司的小編為大家做一下介紹：

優點：

1.分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

2.X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。

3.非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。

4.X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。可分析的元素范圍從Na到U。WTH2000型的元素分析范圍是Na到U，含量范圍為10PPm～100％。因此該法已用于銅合金、鎳合金中高含量Cu、Ni的分析。

5.分析精密度高。WTH－2000型的分析精度達0.1％，檢出限可達10ppm。

6.制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。 

缺點：

1.對輕元素的靈敏度要低一些。

2.難以做絕對礦產檢測分析，因此定量分析需要標樣。